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Reflexionsmessung an einer vergüteten Linsenoberfläche

Reflektometer ETA-ARC-AT

Um die an den Glas/Luft-Übergängen auftretenden Verluste durch Lichtreflexion möglichst gering zu halten und störende Geisterbilder zu beseitigen, werden optische Linsen heute mit hochwirksamen Antireflex-beschichtungen versehen. Ein Problem, dem sich die Qualitätskontrolle dabei gegenüber gestellt sieht, ist die Tatsache, dass der spektrale Reflexionsgrad derartig beschichteter Linsen bedingt durch den störenden Einfluss des Rückseitenreflexes in der Regel nicht zerstörungsfrei gemessen werden kann. In der Praxis behilft man sich deshalb meistens mit auf der Rückseite aufgerauten und geschwärzten Mustersubstraten.

Das von AudioDev hergestellte und in Europa exklusiv von Schneider- Kreuznach vermarktete Reflexionsmessgerät ETA-ARC-AT umgeht diese Einschränkung dank eines speziellen Messkopfdesigns und gestattet somit eine zerstörungsfreie und hochgenaue, einhundert-prozentige Qualitäts-kontrolle an tatsächlichen, gekrümmten Linsenoberflächen. Die Unter-drückung des Rückseitenreflexes funktioniert zuverlässig und problemlos für alle Linsen mit Dicken von mindestens 2 mm. Als Detektor kommt eine Diodenzeile zum Einsatz, wodurch sich sehr kurze Messzeiten von deutlich unter einer Sekunde realisieren lassen.

Reflexionskurve einer Multicoating-Schicht
Messergebnis einer Reflexionsmessung mit dem Reflektometer

Da der Messfleck recht klein ist und es zudem möglich ist, die Messung an einem beliebigen Ort auf der Linsenoberfläche durchzuführen, lässt sich mit dem ETA-ARC-AT auch sehr gut die Homogenität der Antireflexbeschichtung untersuchen. Mittels der auf Wunsch möglichen Bestimmung der Farbwerte der Beschichtung in den gängigen CIE Normfarbräumen lassen sich die vermessenen Linsen auch im Sinne einer optimalen Farbübereinstimmung selektieren. Ebenso kann die Software aus den spektralen Daten auch die Dicke von Einzelschichten bestimmen sofern die Materialdaten des Schichtmaterials bekannt sind. Dazu zählt zum Beispiel auch die Vermessung der Kittschicht eines Kittgliedes.


Siehe auch Beitrag in der Fachzeitschrift PHOTONIK,
Ausgabe Febr. 2010:
„ Zerstörungsfreie Vermessung von Antireflexbeschichtungen auf gekrümmten Oberflächen" von L. Völker, M. Schulz-Grosser, R. Kubitzek.
(Website des Fachverlags: www.photonik.de)

pdf (270 B)

 

Technische Daten/strong>  
   
Spektralbereich 380-1050 nm bzw. 850-1700 nm
Photometrische Genauigkeit/td> 0,5% des Reflexionsgrades der
Referenzprobe
Mindestdicke der Linse 2 mm
Theoretische Auflösung 1,3 nm
Optische Auflösung 5,2 nm
Wellenlängengenauigkeit ± 0,5 nm
   
Digitalisierung 16-bit
Integrationszeit > 6 ms
Typische Messdauer 50-200 ms
Schichtdickenmessbereich 0,5-20 μm (mit FFT-Methode;
mit Kurvenfit auch dünner)
Schichtdickengenauigkeit ± 0,05 μm
Farbwertgenauigkeit x,y ± 0,002, Y ± 0,5
   
Lichtquelle Wolfram-Halogenlampe, 50 W
Wellenlänge polychromatisch / 3000 K
Lebensdauer der Lampe > 2000 Betriebsstunden
   
Abmessungen (BxHxT in mm) 471x317x166 ± 1 (Elektronik)
200x80x50 ± 0,5  (Messkopf)
Arbeitsabstand 52 mm (nominell)
   
Spannungsversorgung 100-240 V AC / 50-60 Hz
(selbsteinstellend)
PC Schnittstelle USB / Ethernet
PC Mindestanforderungen Windows® 2000 / XP, 32 MB RAM, 30 MB Festplattenspeicher


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