Xenon-SAPPHIRE: Neue Objektive von SCHNEIDER KREUZNACH für hochauflösende Zeilenkameras

Bad Kreuznach, 06.11.2012

Schneider-Kreuznach präsentiert auf der VISION 2012 acht Xenon- SAPPHIRE High-Performance-Objektive für 12k- und 16k-Zeilenkameras mit einer Zeilenlänge von bis zu 62,4 mm.


Die Objektivserie ist für höchste Anforderungen bei Web- und Oberflächeninspektionen entwickelt und erste Wahl für FPD- und PCB-Inspektionssysteme. Sie bietet eine optimale Transmission durch eine Breitbandbeschichtung im Bereich von 400 bis 1000 nm und verfügt über ausgezeichnete optische und mechanische Eigenschaften. Eine Auflösung von mehr als 100 lp/mm ermöglicht den Einsatz der Objektive für Sensoren mit 3,5 µm Pixelgröße.

Die Xenon-SAPPHIRE Objektive sind erhältlich im Abbildungsmaßstab von ß' = -0,02 bis ß' = -1,75, einschließlich einer Version für die Benutzung mit einem 80 mm Strahlteiler für koaxiale Beleuchtung. Präzise Feinmechanik und geringste Fertigungstoleranzen sorgen für einen minimalen Kontrastverlust. Die Aufnahme im Kundengerät erfolgt über eine V70-Mount-Schnittstelle.

Weitere Informationen zu den neuen Produkten von Schneider-Kreuznach erhalten Sie vom 6. bis 8. November auf der VISION 2012 in Stuttgart, Halle 1, Stand G72. Oder Sie besuchen unsere Website unter www.schneiderkreuznach.com/industrialoptics.


Downloads
xenon-sapphire_vision.pdf

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